Sehen, was andere Methoden verborgen lassen – mit hochauflösender Elektronenmikroskopie und maßgeschneiderten Analysepaketen am IFW Dresden.





Das IFW Dresden bietet umfassende Elektronenmikroskopie-Services (SEM & TEM) für die hochauflösende Strukturanalyse verschiedenster Materialklassen. Unsere Ausstattung ermöglicht nicht nur klassische Abbildung, sondern auch kombinierte Analysen mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDXS) und Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS/ELNES). In-situ-Experimente eröffnen zusätzliche Einblicke in dynamische Strukturänderungen unter realen Bedingungen. Durch eigene Probenpräparation – inklusive Dünnschichtabscheidung – übernehmen wir die komplette Materialanalyse aus einer Hand.







Ihre Vorteile



• Abbildung bis in den Sub-Nanometerbereich

• Kombinierte Struktur- & Chemieanalyse für präzise Materialcharakterisierung

• In-situ-Experimente unter realistischen Einsatzbedingungen

• Komplette Probenvorbereitung vor Ort für schnelle Ergebnisse

• Breites Materialspektrum von Metallen über Keramiken bis Nanostrukturen



Methoden



• Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

• EDXS für Elementanalysen

• EELS/ELNES für elektronische Strukturuntersuchungen

• In-situ-Heiz- und Belastungsexperimente

• Dünnschichtabscheidung und Präparation für Material- und Mehrfachschichten





Anwendungsfelder



• Qualitätskontrolle und Schadensanalyse

• Entwicklung und Optimierung von Funktionsschichten

• Charakterisierung von Nanostrukturen (z. B. Graphen, CNTs)

• Analyse von Mehrschichtsystemen mit speziellen magnetischen oder elektronischen Eigenschaften

• Untersuchung dünner Schutz- und Funktionsschichten